PRISM———电子与非电子元件可靠性预计和数据库(ReliabilityPredictionandDatabaseforElectronicandNon-electronicParts),是由系统可靠性中心
(SystemReliabilityCenter,简称SRC)开发的一种可靠性预计方法。PRISM方法具有两部分,第一部分是计算每个部件的基本失效率,第二部分是以系统水平过程评价系数修正基本失效率。PRISM方法中的系统失效率模型如下:
λS=λIA·(ΠPΠIMΠE+ΠDΠG+ΠSΠG+ΠMΠIMΠEΠG+ΠI+ΠN+ΠW)+λSW(1)
其中,λS是系统预计失效率,λIA是原始评估失效率,ΠP是过程系数,ΠIM是初期失败率系数,ΠE是环境系数,ΠD是设计过程系数,ΠG是可靠性增长系数,ΠM是制造过程系数,ΠS系统运行过程系数,ΠI是感应过程系数,ΠN是非缺陷过程系数,ΠW是老化过程系数,λSW是软件失效率。
原始评估失效率是由RACRates模型得到的。RACRates可靠性预计模型中,每种通用部件使用独立的失效率进行计算,每个失效率项再经过适当的外部应力与部件本身特性进行修正,具体模型如下:
λP=λO·π0+λEπE+λCπC+λi+λSJπSJ(2)
其中,λP是预计失效率,λO是操作应力失效率,π0是操作应力系数,λE是环境应力失效率,πE是环境应力系数,
λC是温度循环应力失效率,πC是温度循环应力系数,λi是感应应力失效率(包括过电感应应力),λSJ是焊接点(缝)
失效率,πSJ是焊接点(缝)应力系数。RACRates模型目前可用于电容器、电阻器、二极管、
晶体管、半导体闸流管、集成电路以及软件的可靠性预计。PRISM方法并非依靠手工计算,而是只能由SRC所开
发的软件来支持。 |