微电子电路老化试验设备

horngjaan · 发表于 2007-5-8 16:45:47

ELEA-V系列集成电路高温动态老化系统

(ELEA-H混合电路高温老化系统)

V系列可靠性升级产品

符合标准：GJB527（等同MIL-STD-883）、GJB597(等同MIL-M-38510)
适用范围：适用于对各种数字、模拟、数模混合集成电路、混合电路及微处理器、存储器及等微
电子电路进行高温动态老化试验。
技术性能：

型号	ELEA-V	ELEH-V
系统分区	16区（标准）
试验容量	208×16（以DIP14计）	/
试验温度	最高150℃
数字信号路数	每板64路	每板8路
数字信号	每路可独立编辑信号的数据、地址、控制、三态特性；信号最高频率：2MHz；最小编程分辨率100ns，最小编程步长100ns；编程深度256k；信号幅度程控范围：2.0V～18.0V；最大寻址深度：64G；数字信号可采用直接输入、字符输入、程序输入三种方法编程；
模拟信号	多路多种类模拟信号发生单元及驱动电路，最高频率可达1MHz;最大驱动电流：1A;信号幅度Vpp20V；直流偏移量：0～1/2Vpp；
试验状态监测	64路信号示波监测接口；宽范围数字、模拟信号频率自动测试、记录；二级电源电压监测；二级电源电流、信号峰值监测（可选）
通讯速率	500K
二级电源	可程控VCC、VMUX、VEE；输出能力：2V～18V/10A；具备灌电流能力；	2组正电源：VCC1（+2V~+36V）、VCC2（+2V~+36V）； 2组负电源：VEE1（-2V~-36V）、VEE2（-2V~-36V）；电流为最大10A；具有过流、过压及过热保护功能；
电源要求	输入：AC380V,50Hz,三相（220V单相可选）；
	整机功率：8kW以下	整机功率：12kW以下
重量	约500kg
外形尺寸（宽×高×深）	1313mm×1950mm×1350mm

horngjaan · 发表于 2007-5-14 11:06:57

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