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转发两个教程,学习一下

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发表于 2007-5-11 10:06:58 | 显示全部楼层 |阅读模式
转发两个教程,学习一下,个人感觉还可以,上传一下

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 楼主| 发表于 2007-5-11 10:36:20 | 显示全部楼层
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发表于 2007-5-11 11:05:28 | 显示全部楼层
不错,很好文章,期待LZ第2楼的文章有其它部份。。

谢谢!!
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发表于 2007-5-11 11:09:32 | 显示全部楼层
谢谢,好文章,正是想找来看的。。


电子元器件失效分析技术

信息产业部电子五所可靠性分析中心
费庆宇

基本概念和失效分析技术


失效的概念

失效定义
1特性剧烈或缓慢变化
2不能正常工作
3不能自愈
失效种类
1致命性失效:如过电应力损伤
2缓慢退化:如MESFET的IDSS下降
3间歇失效:如塑封器件随温度变化间歇失效

失效物理模型

应力-强度模型
失效原因:应力>强度
强度随时间缓慢减小
如:过电应力(EOS)、静电放电(ESD)、闩锁(latchup)
应力-时间模型(反应论模型)
失效原因:应力的时间累积效应,特性变化超差。如金属电迁移、腐蚀、热疲劳
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发表于 2007-5-12 10:09:34 | 显示全部楼层
不错,我参加了费老师的培训了。
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发表于 2007-5-16 08:38:26 | 显示全部楼层
信息产业部电子五所

还确实有点实力
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发表于 2007-5-18 18:10:20 | 显示全部楼层
不错,很好的资料,学习后有很大的收获:

但是楼主应该还有分割的文章没上传完毕哟,

电子元器件失效分析技术与案例.part2.rar
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发表于 2007-5-18 23:00:41 | 显示全部楼层
看晚了,已经下了2个文件
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发表于 2007-5-20 08:54:28 | 显示全部楼层
好文章
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发表于 2007-5-23 08:34:37 | 显示全部楼层
电子器件可靠性评价与分析技术进展.rar不错不错。

LZ是好久没上线了吧。第二个文件还有部分还没传上来,期待中ing.....
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