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气密性试验方法

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发表于 2009-4-7 17:37:47 | 显示全部楼层 |阅读模式
元器件,特别是芯片。在做完恒定加速或低气压试验之后,怎样进行其气密性的验证?
发表于 2009-4-7 18:10:05 | 显示全部楼层
这个东东不懂,帮顶一下!
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发表于 2009-4-8 09:08:59 | 显示全部楼层
GJB548B-2005方法1014.2密封:细检漏/粗检漏
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发表于 2009-4-8 11:31:19 | 显示全部楼层

回复 1楼 ruicai_2001 的帖子

请问下楼主,你所要测试的是什么类型封装的芯片(或器件)?
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 楼主| 发表于 2009-4-8 13:23:13 | 显示全部楼层
主要是贴片式和引针式的芯片。
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发表于 2009-4-8 13:26:39 | 显示全部楼层
陶瓷/金属/塑料封装?
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发表于 2009-4-8 13:37:54 | 显示全部楼层

回复 5楼 ruicai_2001 的帖子

贴片式?能具体说一下封装的形式吗?比如CDIP、PGA等具体的封装类型
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