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发表于 2009-7-6 18:00:40
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我来尝试回答,欢迎大家纠正和补充:
1.理论上讲(在指数分布下),试验样品数量和试验时间是线性关系,怎样选择需要根据产品的成本、试验时间的限制来trade-off。如果条件允许,建议多选样本数量。置信区间一般选择60%或者90%,如果你对产品的信心较小,选择60%的置信度。或者你可以先验证60%的置信度,然后继续试验去验证90%的置信度。
2.0和1失效的差异在于会对MTBF估计结果造成差异,差异在于chi-square分布的自由度一个是2一个是4.
3.个人认为没有什么准确不准确的问题,因为很多大前提都是假设的。
4.这个是根据经验值来的,一般电子产品都选0.6~0.7.如果你想获取Ea的准确值,可以通过分析不同加速应力条件的失效数据来获得。
5.温度对大部分器件都有加速作用,比较普遍。而其他的模型比较针对特别的失效模式。
6.不同模型之间的差异建议参考JESDJEP122
7.设计阶段,确定产品的可靠性指标、usageprofile、environmentalprofile,从这些指标展开产品的可靠性活动和验证计划。
8.从可靠性指标展开,将产品的可靠性分解为具体的需求,比如零件选型、降额,甚至是对产品的设计方案等等,给RD提出建议。 |
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