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发表于 2007-6-19 08:57:22
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OK,按照斑竹的意思把这次研讨会的内容列出来,不过这次主要讲的是MTBF这一块的东西,上次的研讨会是关于实效分析那一块的。不晓得各位大虾有什么其它的想知道。
序言:课程介绍(5min)
一、可靠性基本特征量值及其常用分布函数(30min~40min)
1.可靠性特征量值
2.光电子器件寿命分布函数
3.指数分布函数及其MTBF(FIT)计算
4.对数正态分布函数及其Wear-outfailurerate计算
5.Weibull分布函数解析
6.RandomfailurerateandWear-outfailurerate-计算案例
二、MTBF(FIT)统计技术(2hours)
1.可靠性预计技术
2.可靠性分配技术
3.系统可靠性模型的建立
4.加速寿命试验统计模型
5.有贯序列及定时定数截尾试验统计方法
6.MTBF的理论计算
三、MTBF的总体控制流程(思路)(1hour)
1.MTBF总体控制流程
2.产品立项阶段可靠性数据的建立
四、MTBF实际工程应用(2hour)
1.如何在Qualification阶段预估产品返修率?
2.Qualification阶段如何估算出产品的保修期?【产品返修率达到10%】
3.通过对DeviceLevel的加速寿命试验,如何估算出产品级的MTBF值?
4.电子产品现场MTBF(FIT)的计算
5.现场返修率PPM的统计方法
6.生产过程中MTBF指标的控制-ORT
五、专题讨论及问题点回答(30min) |
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