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大家来谈谈电子产品在低气压时失效模式?以及如何作低气压试验?

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发表于 2007-6-10 13:59:55 | 显示全部楼层 |阅读模式
大家来谈谈电子产品在低气压时失效模式?以及如何作低气压试验?我这里有一个相关标准,大家来聊聊!


GJB150.2-86军用设备环境试验方法低气压(高度)试验.pdf
发表于 2012-12-31 16:53:26 | 显示全部楼层
个人认为,失效模式:由于低压导致空气散热不畅,导致器件温度过高。

这里提一个疑问:低气压试验是否可以通过温度/海拔换算成温度试验?
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发表于 2012-12-31 16:57:23 | 显示全部楼层
一般来说海拔可以换算成温度,海拔越高,温度越低。但是同时器件温升又变高了。失效模式确实不好判断
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发表于 2013-1-2 11:06:13 | 显示全部楼层
气压变低,一方面会使器件周围空气的散热能力降低,另一方面介质的介电强度也会下降,会一起电晕放电而损坏器件。
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