求助：λ(t)指数分布的失效期问题

cipher121

今天在看坛子里找到的“可靠性设计教材”时，
有一个λ(t)的例子：
一、可靠性基础知识失效率λ(t)与失效密度函数f(t)的用途
例6：有一批产品共80个投入试验，每隔40小时测试一
次，失效数分别为7、6、6、5、2，试验200小时后还有52
个样品正常，再继续试验2000小时共有5个样品失效，问产
品的失效分布形态。
λ(40)＝7/40×（80－7）＝0.0024
λ(80)＝6/40×（73－6）＝0.0022
λ(120)＝6/40×（67－6）＝0.0024
λ(160)＝5/40×（61－5）＝0.0022
λ(160)＝2/40×（56－2）＝0.0009
由失效率计算的前4个数据看，基本为常数满足可靠度函
数服从指数分布的形态。第五个数据失效率产生了很大的偏
离说明从这次测试后产品将进入偶然失效期。由此可见失效
率不是恒定不变的，产品失效期的三个阶段其失效率也是变
化的。


由前4个数据看出服从指数分布，没问题；
但是问题来了，为什么说第五个数据偏离后，就代表产品进入偶然失效期呢？
那前4个数据是出于早期失效期？
难道产品寿命周期可以有两个失效率不同的偶然失效期？

请各位大侠看看，到底是什么问题。

admin

威布尔分布参数估计在EXCEL中的实现方法研究.pdf19楼

三参数威布尔分布模型：
m<1时，适用于早期失效；m=1时，适用于随机失效，退化为指数分布，m>1时，适用于老化失效。


这篇文章推荐看看，可能有点相关。

cipher121

回复2#admin


谢谢Admin的关注，那篇文章我看过了
感觉这个问题不涉及威布尔，我把帖子重新编辑了，原例在其中
劳您再看看

deadxiaoh

指数函数应该不能描述早期失效吧、、、、个人理解呵呵

admin

威布尔分布中m=1，即为指数分布。一般说的电子元器件类适用的恒定失效期。

没有说早期失效用指数函数啊。

admin

威布尔分布中m=1，即为指数分布。一般说的电子元器件类适用的恒定失效期。

没有说早期失效用指数函数啊。

deadxiaoh

刚查了一下资料，指数分布主要是用在随既失效区

cipher121

我明白大家说的意思,指数分布是指失效率恒定,对应于产品寿命周期的恒定/随机/偶然失效期。
我想问的是：既然是恒定失效期，为什么前四个数据恒定，而第五个数据会有这么大偏差。按理说，正常情况下，第五个数据应该大于或等于恒定失效率嘛。而且文中还说从第五次测试才进入恒定失效期？？

第五个失效率应该是λ(200)才对。
对了，这是从五所的一个“使用可靠性设计”中看到的，我知道这挺简单的，但就感觉文中的说法挺别扭的

facri001

指数分布主要是用在随既失效区

cipher121

回复9#facri001


ohyes.yougotit