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请问大家低温贮存试验后样品是以什么条件恢复的?

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发表于 2007-6-24 01:30:29 | 显示全部楼层 |阅读模式
1、以不大于1deg/min的温变率上升至25deg,然后在试验室用大气条件下恢复2h?
2、以不大于1deg/min的温变率上升至25deg,然后在试验室用大气条件下恢复2h,同时用风机吹干?
3、升温至高温(譬如50deg)烘烤,然后降温至25deg?

我主要想知道那些热容量大的产品是怎么恢复的?对于电工电子产品,低温贮存试验后,如果高温烘烤恢复,是否会破坏低温贮存引起的失效模式?如果会,可能有哪些失效模式会因为烘烤而破坏的?
发表于 2007-6-24 09:11:03 | 显示全部楼层
参考过华为的一些环境试验曲线,一般都是用第一种方式进行恢复。

你的第二种加风机吹干,也是怕里面有水气吧,那样的话可适当延时恢复时间2小时啊。

低温贮存        一般用GB/T2423.1-1989这个标准!可以看看里面是怎么介绍的!

[本帖最后由david于2007-6-2409:32编辑]
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发表于 2007-6-24 09:35:25 | 显示全部楼层
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发表于 2007-6-25 16:54:06 | 显示全部楼层
这五种状态下对产品影响的文章很不错,

以后做环境试验的时候,失效分析会有针对性了,心中也好有个谱!

多谢多谢!!!
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发表于 2007-6-26 16:52:34 | 显示全部楼层
个人理解,以上三种方法没有任何差别,
关于"是否会破坏低温贮存引起的失效模式"个问题的理解是
1.假设在回到常温前可能存在基某种失效,但是此种失效在产品恢复常温2小时内便不再存在,
对于此种情况,我们可不必过份关注.
2.产品在存储完成,回到常温2小时后,出现某种失效.
对于此种情况,找出失效点,改善之,列出经验总结即可.
实际的工作中,此种细节是允许被忽略的
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