精通二极管工艺、测试标准、半导体可靠性的朋友请进

玉皇山 · 发表于 2010-2-26 15:28:39

在某些二极管的规格书中和国标里面有一项测试：PeakRepetitiveReverseSurgeCurrent(2.0us,1.0kHz)。该参数可以考核二极管的可靠性。但不明白一点，该项测试对器件是有损还是无损的，是否可以作为例行试验和生产时的测试？

如果您对二极管的工艺、国际标准很熟、有实际经验，麻烦指导一下。

谢谢。

batistutaliqian · 发表于 2010-2-26 15:53:24

坐这里等牛人来解答~

deadxiaoh · 发表于 2010-2-28 00:49:44

有意思关注

玉皇山 · 发表于 2010-3-3 10:14:17

继续等待。

chjhwfj · 发表于 2010-3-21 23:33:40

帮顶，等待大侠来解答

pittttt · 发表于 2010-6-25 12:38:13

这个主要还是针对肖特基二极管的
在肖特基二极管中，有一个反向浪涌电流测试，该测试为破坏性，但每个肖特基二极管均有这个测试要求，例如：1A40VSKY正常生产线测试条件为IR=0.5A，PulseWidth：5/995uS，10Periods。

闲情 · 发表于 2010-9-1 11:20:46

行家一出手,就知有没有

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