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军用电子产品的高加速寿命试验

 火... [复制链接]
发表于 2010-3-17 00:03:51 | 显示全部楼层 |阅读模式
以军用电子产品的高加速寿命试验(HALT)为研究对象,分析了传统可靠性环境模拟试验的弊端,
介绍了HALT试验的特性、目的、优点及发展现状,通过实际的HALT试验阐述了试验剖面设计及被试验产
品工作极限的确定方法,并给出试验结论,为同类产品的可靠性设计提供了依据。

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参与人数 1金币 +5 收起 理由
admin + 5 非常不错的资料,感谢分享。

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发表于 2010-3-17 08:26:27 | 显示全部楼层
学习一下!!
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发表于 2010-3-17 09:09:31 | 显示全部楼层
下载了,感谢
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发表于 2010-3-17 16:44:05 | 显示全部楼层
谢谢分享学习一下
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发表于 2012-7-30 15:34:42 | 显示全部楼层
谢谢分享,认真学习
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发表于 2012-7-30 17:23:32 | 显示全部楼层
谢谢分享!
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发表于 2013-1-13 20:52:58 | 显示全部楼层
谢谢分享,认真学习
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发表于 2013-1-27 13:01:17 | 显示全部楼层
谢谢奉献啊,楼主。
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发表于 2014-7-28 22:28:39 | 显示全部楼层
学习了,谢谢分享!
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发表于 2014-8-13 09:00:05 | 显示全部楼层
学习中!
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