可靠性预计SR-332 ISSUE 2中的问题

liugang_2002 · 发表于 2010-3-23 16:56:21

各位兄弟姐妹，
小弟在学习可靠性预计标准SR－332ISSUE2中有几个问题一直没搞明白，请各位不吝赐教，谢谢先。
1.SR-332issue2中3.3节中blackbox+fielddata模型(1);5.3节中partcount+fielddata模型（2），这两个式子的原始出处是参考那篇论文？
2.SR-332issue2中3.2.2节，时间因子W是如何划分时间段的？有什么依据？出处是那篇论文？5.2.2节，时间因子W是如何划分时间段的？有什么依据？出处是那篇论文？
3.SR-332issue2中9.2.1节中，electricalstresscurveK值为什么和其他的不同，即其值都不小于1？
4.SR-332issue2中8.3节二极管电性应力参数，8.12节中三极管电性应力参数，有些有两类电性应力curve?
5.SR-332issue2中2.2.3.3节中，还有9.1节中，对于元器件操作温度的测量，该标准规范热电偶的位置为距离单元0.5英寸，这样很难实现，不知道大家是否是直接粘在元器件的本体上？还是有更好的实现方法？

liugang_2002 · 发表于 2010-3-23 16:58:16

本帖最后由liugang_2002于2010-3-2318:16编辑

回复1#liugang_2002

batistutaliqian · 发表于 2010-4-7 15:32:10

楼上的基本上属于没回答楼主的问题哦．．．．．等待解答～
　同样的疑问包括１　　温度的测定　　　２电应力的测定

liugang_2002 · 发表于 2010-4-14 21:30:06

1，2楼都是我一个人的问题，
再顶下，期待高人解答，谢谢。。。。

carlos · 发表于 2010-8-3 11:26:00

期待

xingshi206 · 发表于 2012-9-13 11:39:23

kong2009qi · 发表于 2012-9-22 15:25:26

恩不错学习了

xingshi206 · 发表于 2012-10-10 09:46:48

怎么没有高手前来解疑答惑

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