陶瓷电容试验

jiashaoxiong · 发表于 2010-9-11 23:12:19

对于陶瓷电容器，出厂后的商品，要经过什么试验，在不改变其失效机理的前提下，让其性能退化（即，寿命减小，但不让其失效），这个有什么标准吗？

俱兴 · 发表于 2010-9-12 15:50:20

额，不是太明白楼主所说的性能下降是指什么。瓷片电容最常见的失效就是开裂，由于各种各样原因造成开裂。但是这个应该不是楼主所说的性能下降。其他的，比如耐压、ESR等等的，在正常条件下使用都不太会有较大退化。容值衰减我说过了，是跟时间有关的，这是瓷片电容自身的特性决定的，这种现象一般被称作老化，但是仅限二类和三类瓷介电容。一类瓷介不存在这个问题。你做寿命试验应该也不能模拟出来。
关于对瓷片电容评估的问题，我知道的物料引入，一般就是按照规格书测试一些偏差（ppm）、容值、ESR、温度特性等等，但是这些测试要在出厂1000小时内完成。

fanweipin · 发表于 2010-9-12 10:10:04

那就做寿命试验就可以了！

jiashaoxiong · 发表于 2010-9-12 11:34:23

谢谢指导！这个不需要环境试验吗？

俱兴 · 发表于 2010-9-12 11:40:15

木有听说过有这种实验。请问楼主实验目的是什么，想针对何种失效机理？
与铝电解电容不同，对于瓷片电容来说寿命并不是它的关键参数。正常使用的情况下，介质类型、温度系数、直流偏执电压、容值的精度要求等才是需要关注的。瓷片电容自出厂后容值就会一直下降，直到经历了居里温度才会容值恢复，然后开始另一个循环的衰减。不过这个不是失效，而是它自身材料特性决定的。不知道楼主是不是关心这个问题。

jiashaoxiong · 发表于 2010-9-12 13:26:09

试验目的就是要一些性能下降的样品，来和好的样品做对比，通过其它方法来区分好的和差的。现在没有这样的样品，所以想自己通过什么方法做一批出来。

jiashaoxiong · 发表于 2010-9-12 16:07:43

非常感谢指导，我这里所说的性能下降，简单说就是经过一些处理让它的寿命有明显下降，其实这个我并不要求它具体哪方面有问题，我们是要尝试寻找一种方法把寿命、或耐压有明显区别的两类样品分开来。

wangcm1127 · 发表于 2010-9-12 20:23:00

没有研究过，学习了！我们公司对陶瓷电容主要检测容值精度，从维修报表来看，失效的很少，失效主要表现为断裂和裂纹。

giant110 · 发表于 2010-9-12 22:40:06

额，不是太明白楼主所说的性能下降是指什么。瓷片电容最常见的失效就是开裂，由于各种各样原因造成开裂。但...
俱兴发表于2010-9-1215:50

说的太好了学习了

ciomp_achilles · 发表于 2013-8-6 21:03:03

主要的失效机理是介电击穿，电解电容的失效有明显的退化过程，陶瓷电容不是很清楚，期待继续跟帖讨论

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