环境实验可能只是筛选实验，标准有IEC68-2和国标GB/T2423，军标GJB150。其目的是即给予一定应力，考察产品的环境适应能力。
寿命试验的目的是给予一定应力，产品在此条件下连续工作，直到失效率达到n%的工作时间，可以评价产品的MTBF。 原帖由tmc_kevin于2007-12-1618:30发表http://www.kekaoxing.com/club/images/common/back.gif
如果单说温度应力或振动应力，可以勉勉强强说可以。
个人理解代替单独的振动和温度应力目前也不可取，
这要看HALT的失效模式是否全包括了环境测试时候发现的失效模式。
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有道理，高加速，或者说快速温变率下的失效模式与普通环境试验的失效模式可能是不一样的。 首先,HALT试验是不能代替环境试验.7楼的朋友已经写的比较清楚了,目的不同决定了前者是不能后者的。其次，HALT是以故障物理学为基础的破坏性试验，是以激发故障为目的的，以期望在最短的时间内找到产品的设计缺陷，以达到在短期内产品的高可靠性；而环境试验是考核产品在极限试验条件下的适应能力。要注意的是，产品的可靠性是不能通过试验而被提高的。
最后，HALT试验是对产品的寿命有影响的，风险性很大。。。
:handshake:handshake:handshake 学习了。不错。试验的项目越来越多，区别他们很重要。 原帖由zhuwy2006于2007-12-1909:00发表http://www.kekaoxing.com/club/images/common/back.gif
HALT是高加速寿命试验。环境实验和寿命实验都属于可靠性实验，但二者还是有本质的区别的。
环境实验可能只是筛选实验，标准有IEC68-2和国标GB/T2423，军标GJB150。其目的是即给予一定应力，考察产品的环境适应能力。...
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本人对楼上兄弟意见有不同的看法。
根据《电工电子产品环境试验国家标准》第二版所列出的国标中，GB/T2423.50-1999恒定湿热试验-主要用于元件的加速试验，这个关于环境试验的标准就已经强调了加速寿命实验，只不过作为国标其严酷等级比较低而已。HALT应属于在该标准前提下更严酷、更深入的测试。
所以本人认为：HALT作为一个分支应包括在环境实验中。
有不同看法的人可以继续讨论！ 湿热实验,HALT也是无法代替的. 原帖由GUCCI于2008-1-422:22发表http://www.kekaoxing.com/club/images/common/back.gif
个人理解代替单独的振动和温度应力目前也不可取，
这要看HALT的失效模式是否全包括了环境测试时候发现的失效模式。
说HALT代替环境试验太广了，不可能完全代替环境试验。这个谁都不敢。
HALT的失效模式和环测(温度+振动)的激励模式和失效模式都不一样。
但是，我们可以做一些研究，是否HALT可以代替某些环测(温度+振动)试验。
那么首先，我们就要弄清楚环测(温度+振动)的激励模式和失效模式是如何的。
举例：这里我举振动为例子，
环测的振动如果用的ED-shaker，那么他的单轴振动激励模式完全不同于HALT的全轴振动激励模式。
不仅是单轴和全轴的区别，破坏方式也有的区别(不知道如何表达出来)。
那么这里先说，HALT可否代替环测里的振动测试呢，那么我们要从实验的目的来说明，具体的就是用失效模式去验证。
只有失效模式是被包括的关系，答案才可以是肯定的，并且只对包括这部分失效模式的振动实验来讲。
欢迎各位大侠来评点指正。 个人觉得目前研究这个意义不大，costdown的目的。
用HALT代替环测目的就是省略某些环测测试，那么被省略的那些环测测试省不了几个钱的。
倒不如踏踏实实的做好失效物理模式分析和可靠度分析。