貌似不行吧，期待高人回复！
这个肯定是不行的，你应该查下为什么要做环境试验和为什么要做HALT就知道这两者是不能互相代替的！
不可以的吧HALT是高加速应力测试，是破坏性的，主要是研发初期测试出产品所能承受的温度极限，是做规格参数参考的。环境测试主要是验证产品使用和储存过程中的环境条件，环境试验条件应该从HALT条件中选择，具体就要看研发单位的意见了。
个人观点啊，不足之处还望多多指教
HALT测试和环境测试不能等同，除了前面有人提到HALT无法进行湿度测试外，个人感觉还有两点，
1）两者测试模式的巨大差异。HALT讲究的是迅速发现问题，实现可靠性增长，因此对于电子产品是要剥去外壳来测试的，能裸板最好，而环境试验则一般以整机测试，这会导致温度分布的不同，从而两者可能发现不同的失效模式。
2）HALT和步入式温箱相比空间小很多，很多步入式温箱能干的活，HALT做不了，或者得将产品拆开做，这会导致测试覆盖率的降低；
但从个人经验看，环境能发现的问题，极少HALT不能发现的，特别是个头小，发热低的小功率产品。
HALT测试和环境测试不能等同，除了前面有人提到HALT无法进行湿度测试外，个人感觉还有两点，
1）两者测试模式的巨大差异。HALT讲究的是迅速发现问题，实现可靠性增长，因此对于电子产品是要剥去外壳来测试的，能裸板最好，而环境试验则一般以整机测试，这会导致温度分布的不同，从而两者可能发现不同的失效模式。
2）HALT和步入式温箱相比空间小很多，很多步入式温箱能干的活，HALT做不了，或者得将产品拆开做，这会导致测试覆盖率的降低；
但从个人经验看，环境能发现的问题，极少HALT不能发现的，特别是个头小，发热低的小功率产品。