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请教怎样设计一个halt试验?

 火... [复制链接]
发表于 2011-10-31 20:10:12 | 显示全部楼层 |阅读模式
之前接触到的halt试验都是一个流程,高温、低温、振动、高低温循环、综合应力,但是到底怎么定义高温、低温、振动应力,怎么确定综合应力测试要做几个循环?请各位指教怎么根据一个产品来设计halt试验?比如说是根据产品的各种元器件计算还是各个产品有不同的标准?
发表于 2011-11-1 17:41:09 | 显示全部楼层
我啥也不说了,传一份东西大家看看.
由深圳市计量院朱工与中检华纳共同编写的,
<<电工电子产品加速应力试验规程高加速寿命试验导则>>,还没有正式公布.报批稿吧.

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发表于 2011-10-31 22:36:16 | 显示全部楼层
本月在线时间怎么这么多小时?

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admin -2 不相关话题,请另开贴.

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发表于 2011-11-1 08:55:27 | 显示全部楼层
回复2#yanghe98


谁的在线时间??
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发表于 2011-11-1 08:55:51 | 显示全部楼层
HALT实验本来就是测试产品在高温、低温、振动、高低温循环、综合应力这样苛刻的环境下的极限值,其实在HALT刚开始做的那些测试完后,产品在这些极限值就已经出来了
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发表于 2011-11-1 09:38:08 | 显示全部楼层
个人理解:HALT试验的目的不是所谓的能达到或者不能达到某个标准,它只是我们可靠性增长的一种手段。
试验中寻找高温极限,低温极限,振动极限,电应力极限,综合应力极限(极限包括操作极限和破坏极限),都只是为了暴露样品在各种应力环境下的弱点,缺陷。为了在短时间内发现样品的脆弱点,所以对样品施加高应力,极快的激发和暴露样品的缺陷,以利于我们改进缺陷,提高产品的可靠性。
抛砖引玉,请高手指教!!
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发表于 2011-11-1 15:23:41 | 显示全部楼层
盼高手回复,学习
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发表于 2011-11-1 15:37:39 | 显示全部楼层
最近也在整理试验,也特别需要这样的试验设计!希望有高手指点!
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发表于 2011-11-1 17:50:11 | 显示全部楼层
HALT目的是提前暴露样品在的弱点,缺陷,细节可以根据不同产品有不同取值,产品、元器件或附件对那些敏感,就可以针对试验,比如LCD屏耐低温性能差,可以从0度开始,每五度一个步进试验。
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 楼主| 发表于 2011-11-1 19:34:33 | 显示全部楼层
谢谢各位的回复,因为现在公司可能涉及到的产品比较多,有成品也有零部件,halt试验应该是不同的吧?
所以才向各位求助是否有一个通用的准则/文件可以对不同的产品进行不同的实验设计。
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