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楼主: 1050059

请教怎样设计一个halt试验?

 火... [复制链接]
发表于 2013-9-13 21:38:21 | 显示全部楼层
建议可以看看国防科技大学温熙森教授编写的一本书《可靠性强化试验技术与应用》(好像叫这个名字),里面有HALT试验的有关详细介绍,至于HASS试验,高加速应力筛选,本人觉得试验应力过大,对交付的产品来说,应力损伤过大,不建议使用。至于HALT,作为产品的研制试验,的确是个好的试验,可以很好的激发产品的设计缺陷和工艺缺陷,缩短产品的研发周期,占据市场,很有帮助。
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发表于 2013-9-16 13:51:34 | 显示全部楼层
资料是个好资料,做好HALT测试的工程师一看就知道。但是我本对国标期望很高,这份资料里面没有看到一些国内资深技术人员的亮点,因为这资料所讲的所有东西,都是目前所有实验室在执行的一个通常做法,希望国标起草人能有更多的技术突破,而不是收集数据合成资料而已。
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发表于 2013-9-20 10:51:46 | 显示全部楼层
pl6060184发表于2011-11-117:50
HALT目的是提前暴露样品在的弱点,缺陷,细节可以根据不同产品有不同取值,产品、元器件或附件对那些敏感,...

同意,一般就是把温度,震动条件一点点加上去,找产品的极限值
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发表于 2013-9-20 12:17:05 | 显示全部楼层
我们做的是芯片的这个实验是依据标准的。JEDEC
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发表于 2013-10-21 14:00:10 | 显示全部楼层
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发表于 2013-10-23 16:01:23 | 显示全部楼层
有客户要求做hass测试,条件都是客户给的。一般都是在升温降温时会加各种应力~~
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发表于 2013-10-30 12:55:18 | 显示全部楼层
fanweipin发表于2011-11-117:41
我啥也不说了,传一份东西大家看看.
由深圳市计量院朱工与中检华纳共同编写的,
,还没有正式公布.报批稿吧....

謝謝妳的分享摟~
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发表于 2015-4-17 21:30:59 | 显示全部楼层
感谢楼主!辛苦
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发表于 2015-11-30 13:21:40 | 显示全部楼层
有没有相应的国际国内标准?
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