请教怎样设计一个halt试验？

fxl603 · 发表于 2013-9-13 21:38:21

建议可以看看国防科技大学温熙森教授编写的一本书《可靠性强化试验技术与应用》（好像叫这个名字），里面有HALT试验的有关详细介绍，至于HASS试验，高加速应力筛选，本人觉得试验应力过大，对交付的产品来说，应力损伤过大，不建议使用。至于HALT，作为产品的研制试验，的确是个好的试验，可以很好的激发产品的设计缺陷和工艺缺陷，缩短产品的研发周期，占据市场，很有帮助。

ysw20757007 · 发表于 2013-9-16 13:51:34

资料是个好资料，做好HALT测试的工程师一看就知道。但是我本对国标期望很高，这份资料里面没有看到一些国内资深技术人员的亮点，因为这资料所讲的所有东西，都是目前所有实验室在执行的一个通常做法，希望国标起草人能有更多的技术突破，而不是收集数据合成资料而已。

danny3318 · 发表于 2013-9-20 10:51:46

pl6060184发表于2011-11-117:50
HALT目的是提前暴露样品在的弱点，缺陷，细节可以根据不同产品有不同取值，产品、元器件或附件对那些敏感，...

同意，一般就是把温度，震动条件一点点加上去，找产品的极限值

longyinghan · 发表于 2013-9-20 12:17:05

我们做的是芯片的这个实验是依据标准的。JEDEC

peng957 · 发表于 2013-10-21 14:00:10

yjb788 · 发表于 2013-10-23 16:01:23

有客户要求做hass测试，条件都是客户给的。一般都是在升温降温时会加各种应力~~

nomo1615 · 发表于 2013-10-30 12:55:18

fanweipin发表于2011-11-117:41
我啥也不说了,传一份东西大家看看.
由深圳市计量院朱工与中检华纳共同编写的,
,还没有正式公布.报批稿吧....

謝謝妳的分享摟~
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yjfneu · 发表于 2015-4-17 21:30:59

感谢楼主！辛苦

litingstar · 发表于 2015-4-21 17:01:24

非常感谢！

sanzi102069 · 发表于 2015-11-30 13:21:40

有没有相应的国际国内标准？

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