可靠性寿命的计算（高手请进）

ynandy

我才接触可靠性，谁有GR-468？

zhm_1975

不错啊

winnie9999

偶认为应该取最短的那条，

sunjj

http://www.kekaoxing.com/club/vi ... 0&highlight=468

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wu8295

如果首先你要清楚你自己要求的寿命在哪里?是50%,90%,63.2%,这个要求不一样,你的可靠性寿命是不一样的

joel.zy

原帖由xyxiang1982715于2007-8-1012:50发表
可以介绍下“burnin”吗？不懂，请具体解释下好吗？
谢谢！

产品失效分布函数符合浴缸曲线，初期失效主要是由产品本身的制造缺陷造成的。我们可以通过可靠性设计或者加强生产控制尽可能的减少这一时期的失效，但无法避免；所以我们可以用一些加速老化的方法进行合理的筛选，将缺陷产品尽可能的在交付使用前就淘汰掉。burnin就是一个老化筛选的过程。

锦上添花

hey,你附件的这个例子:
用85℃对某一元器件进行48H的筛选，则其筛选强度为:
44.5%=1-EXP(-0.0017*((85+0.6)^0.6)*48)；
其中(85+0.6)这里按公式85不是要减去一个室温25吗？
还有EXP在这里是什么意思呢？

cliffcrag

SS=1-exp[-0.0017*(R+0.6)^0.6*t]
式中：R—高温与室温(一般取25℃)的差值；
t—恒定高温持续时间(h)；
例：用85℃对某一元器件进行48H的筛选，则其筛选强度为:44.5%=1-EXP(-0.0017*((85+0.6)^0.6)*48)；

R是差值，应该减掉常温下。

EXP是在指数分布在EXCEL中的写法。你可以在EXCEL试一下。

joel.zy

原帖由xyxiang1982715于2007-8-1012:50发表
可以介绍下“burnin”吗？不懂，请具体解释下好吗？
谢谢！

Theburn-intestisperformedforthepurposeofscreeningoreliminatingmarginaldevices,thosewith
inherentdefectsordefectsresultingfrommanufacturingaberrationswhichcausetimeandstressdependentfailures.Intheabsenceofburn-in,thesedefectivedeviceswouldbeexpectedtoresultininfantmortalityorearlylifetimefailuresunderuseconditions.Therefore,itistheintentofthisscreentostressmicrocircuitsatorabovemaximumratedoperatingconditionsortoapplyequivalentscreeningconditions,whichwillrevealtimeandstressdependentfailuremodeswithequalorgreatersensitivity.
详见MIL-STD-883FMETHOD1015.9BURN-INTEST
MIL-STD-883F下载地址：
http://www.kekaoxing.com/club/thread-1923-1-1.html

weisi

学习咯！