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半导体器件失效案例统计与综合分析

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发表于 2014-4-16 08:56:40 | 显示全部楼层 |阅读模式
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发表于 2014-4-17 07:22:37 | 显示全部楼层
电子产品的可靠性,在很大程度上取决于这些核心器件的可靠性。
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发表于 2015-1-8 18:52:41 | 显示全部楼层
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发表于 2015-1-8 19:47:58 | 显示全部楼层
不错,博士写的,下载收藏!航天二院的201所的,看介绍是二院可靠性保证的专业单位,谁熟悉这个所的情况?
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发表于 2015-1-10 11:33:12 | 显示全部楼层
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发表于 2015-1-14 09:54:56 | 显示全部楼层
这个资料很好啊,里面有半导体器件失效模式的比例!
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发表于 2015-3-18 16:32:04 | 显示全部楼层
学习一下前辈的方法
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发表于 2015-4-8 09:10:07 | 显示全部楼层
失效多集中在开关连接器部分,半导体很少失效的,除非用到翻新的了。
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发表于 2015-4-20 19:05:56 | 显示全部楼层
好东西多谢分享!
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发表于 2015-4-24 14:17:12 | 显示全部楼层
不知道咋样,先下载学习下
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