设为首页收藏本站博客

切换到宽版

可靠性网»可靠性论坛(旧) › 可靠性技术交流 › 可靠性试验 › 加速寿命试验理论依据

1 2 3 4 567 8 9 10 ... 12 / 12 页下一页

返回列表发新帖

楼主: 123

加速寿命试验理论依据

火... [复制链接]

发表于 2010-5-3 21:01:33 | 显示全部楼层

值得学习

回复 

使用道具举报

发表于 2010-6-10 16:39:15 | 显示全部楼层

爱伦模型估计只适合单个元器件，对整体的电路板就不太合适了

回复 

使用道具举报

发表于 2010-7-13 17:33:14 | 显示全部楼层

谢谢楼主的分享！

回复 

使用道具举报

发表于 2010-7-20 16:52:21 | 显示全部楼层

好文章啊，学习了哦

回复 

使用道具举报

发表于 2010-7-23 21:40:29 | 显示全部楼层

好，好像看过，谢谢分享

回复 

使用道具举报

发表于 2010-8-11 13:11:06 | 显示全部楼层

good!

回复 

使用道具举报

发表于 2010-9-30 14:53:41 | 显示全部楼层

是篇好文章，感觉新鲜！

回复 

使用道具举报

发表于 2010-12-30 10:32:36 | 显示全部楼层

正在研究，好好看看……

回复 

使用道具举报

发表于 2011-1-8 18:10:58 | 显示全部楼层

谢谢楼主分享哇哈哈哈，很好的资料啊

回复 

使用道具举报

发表于 2011-1-12 15:07:38 | 显示全部楼层

最近有这方面的试验需求，要好好看看

回复 

使用道具举报

1 2 3 4 567 8 9 10 ... 12 / 12 页下一页

返回列表发新帖

|Archiver|手机版|小黑屋|可靠性网 ( 粤ICP备14066057号 )

GMT+8, 2025-4-25 05:56

Powered by Discuz! X3.5

© 2001-2023 Discuz! Team.

快速回复 返回顶部 返回列表