请教二极管失效和寿命考核问题

okhere1999

一个二极管反向击穿电流为100A，设计寿命20年，一年累计工作100次，每次工作时间2小时，请问这样的二极管的怎么进行加速失效考核？是否可以用100A连续工作4000小时来进行考核？

txz06

二极管的加速寿命试验
加速寿命试验是指采用加大应力的方法促使样品在短期内失效，以预测在正常工作条件
或储存条件下的可靠性，但不改变受试样品的失效分布。
通过加速寿命试验可达到以下目的：
（1）、在较短时间里，对高可靠元器件的可靠性水平进行评估，可用外推法快速预测在
规定条件下的失效率；
（2）、在较短时间内，对元器件可靠性设计、工艺改进和可靠性增长的效果进行评估；
（3）、在较短时间内，加速暴露元器件失效模式和机理，从而可正确地制定失效判据和
筛选条件。
必须指出，元器件的电气规格参数指标与其性能稳定可靠是不同的概念，两者之间并没
有直接的联系。规格参数良好的元器件，它的可靠性不一定高；相反，规格参数差一些的元
器件，其可靠性也不一定低。电子元器件的大部分规格参数都可以通过仪表立即测量出来，
但是它们的可靠性和稳定性却必须通过各种可靠性试验，或者大量（或长期）的使用之后才
能判断出来。
电子元器件的失效率数据，可以通过对它的可靠性试验求得：
λ＝失效率＝失效数÷（试验器件的总数×运用时间）
失效率的常用单位是Fit（1Fit＝10-9/h），一百万个元器件运用1000h有1个失效，就
叫做1Fit。失效率越低，说明元器件的可靠性越高。

txz06

摘　要:
文中介绍了半导体激光二极管(LD)寿命测试的理论依据,给出了寿命测试的数学模
型,并据此设计了LD高温加速寿命自动测试系统。系统通过采集恒流工作LD的平均输出光
功率随时间变化的信息,绘制LD的老化曲线,即恒流条件下的P-t曲线,或通过采集恒功工
作LD的工作电流随时间变化的信息,即恒功条件下的I-t曲线,然后推断LD正常条件下的
使用寿命

txz06

硅稳压二极管的高温贮存加速寿命试验及失效分析
这篇文章很长，够你看好长一阵子。

txz06

GaAs红外发光二极管加速寿命试验
哥们，好好看一下吧！

txz06

激光二极管的筛选和寿命评价
这篇，还有另外1篇，明天继续传。
今天上传到4mb了。

okhere1999

谢谢！

lily1106

原帖由txz06于2009-1-701:33发表
激光二极管的筛选和寿命评价
这篇，还有另外1篇，明天继续传。
今天上传到4mb了。

这个论坛怎么上传,下栽资料都受限制,严重打击大家的积极性,郁闷!

admin

哪个网站都会有所限制的，毕竟网络资源还没到无限的时候啊。。

wqpye

非常感谢txz06，谢谢提供这些文章与大家分享。