紧急求助 活化能Ea

echoxfs

请教各位大虾，有没有关于Bellcore推荐的活化能Ea值的相关资料？
活化能Ea值除了Bellcore推荐的之外，还有没有其他的资料可以查到活化能Ea值啊？
需要通过加速寿命试验预估产品的MTBF，但是产品成本太高，产量也不是很大，所以没办法拿出很多产品来做加速寿命试验（最多不会超过5个产品），公司之前没有做过任何关于MTBF的试验，关于活化能Ea也没有任何资料和参考数据，该如何进行试验得到MTBF值？
以上请各位大虾不吝赐教，多谢！

cliffcrag

EA=[(K*T1*T2)/(T2-T1)]*ln(k2/k1)

•T2为加速温度下的失效率
•T1为常温下的失效率
•K1、K2为加速和常温的K氏温度
•K为Boltzmann常数（8.623*10-5eV/K）
*JEDEC对于印刷电路板的推荐值为0.7eV
*某电脑公司对于电脑系统的推荐值为0.5eV
*推荐值的范围大部分落在0.5eV~0.7eV之间


因为大部份文章或标准推荐0.5eV~0.7eV，所以我在计算的时候常用的是：0.6

下面是一个不同器件的EA参考值,很久以前我在一个老论坛发过.你参考一下:

ACCELERATIONFACTORACTIVATIONENERGYCALCULATIONNOMINALACTIVATIONENERGY

COMPONENT	Ea(eV)
Transformers	0.5
Resistors	0.56
R-Pacs	0.56
Inductors	0.56
Capacitors	0.6
LinearModules	0.7
Diodes	1
BridgeRectifiers	1
Transistors	1
OpticalIsolators	1

echoxfs

非常感谢！
不过我还有几个问题~_^
1.我们产品还处在研发设计阶段，而且没有类似产品也没有相应的参考资料
或数据，所以公式中用到的T2加速温度下的失效率&T1常温下的失效
率没有办法得到。
2.我们的产品不是普通消费性电子产品，其他所有测试规格都是按照GJB来制
定的，我不知道如果直接将Ea用0.6是否可以？

cliffcrag

我们在做一款军品类产品的时候，就用过0.6的EA,
这个激活能我也不是很熟悉,看过几篇文章的介绍,但是都没怎么深入的了解过,所以现在大家用的0.6是推荐的值.

你问我直接用EA为0.6是否可用,呵,我也没法和你说可不可用,当然具体是否应用还是看你的理解了,另:shamoudelinhun是你的邮箱吧,今天晚上回去后看找篇关于EA介绍的文章发给你看看.

http://www.kekaoxing.com/club/thread-6057-1-1.html
7楼附件可以看看试验方法。

echoxfs

是我的邮箱，非常感谢！
我一直都想找这方面的资料，但是找到的也都是理论性很强的那种，都要通过大量产品进行试验后得出的，没做过那么复杂的试验，而且也没有那么多的产品。我以前那家公司也是直接用0.6的，不过是普通消费性电子产品。现在产品这么少，都不知道怎么去做这个试验。
谢谢！

JUNWEI.YAN

各位大俠是否有關於EA的書籍可否傳給我一份TKS信箱為:junwei.yan@sh.coretronic.com

hukee

admin,说的有些道理，但是有错误的地方，那就是每个温度点之间的ea不是一定的，这点请大家明白。不同的加速模型，对应的反向推导公式也是不同的，但是它们都是需要实际测算2个应力点的。

hukee

刚才细看了一下，admin出的那个公式怎么和我用的不一样。我的是EA=K（1/T2-1/T1）Ln（MTTF2/MTTF1），这个是Arrhenius推导出来的。

echoxfs

如果用温度作为加速应力的话应该都用Arrhenius模型吧？
如果通过自己做试验得出的Ea在各个温度点之间应该会有点差距，因为试验数据本身就会有误差，但是Arrhenius认为对于某失效机理，在500K以下Ea是不随温度变化的常数。
还有，请教一下，实际测算两个应力点得出Ea具体怎么实现啊？我只有5个产品。

[本帖最后由echoxfs于2007-7-1710:11编辑]

echoxfs

MTTF是怎么计算出来？是指第一个失效发生的时间还是几个失效发生后再平均出来的时间？
计算Ea的时候和产品的寿命分布形式有没有关系啊？
一般的电子产品基本上是符合指数分布还是威布尔分布啊？