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求助:可焊性事宜

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发表于 2010-9-29 09:50:43 | 显示全部楼层 |阅读模式
我公司现在在做SiP封装系列产品,目前的LGA产品进行可靠性验证时,一直出现易焊性不过的情况。

目前我司的实验室进行易焊性测试的时候,用的是一般的槽焊法,但是产品的上锡效果不好。

我司目前LGA产品的管脚均为电镀金,金层厚度最小值为0.5。

这种管脚不易上锡的情况,是否跟管脚的金层厚度有关,还是跟试验方法有关?

JEDEC标准中,易焊性有2种方法,一种槽焊法,一种为SMD的方式

目前LGA的产品是否不适用槽焊法?

BGA产品是否也需要进行易焊性,这又需要以什么样的方法进行?

各位高手,请多多指教。
发表于 2010-9-29 11:53:56 | 显示全部楼层
金层0.5微米的话是很薄的.完整的镀金层要3个微米以上.
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发表于 2010-9-29 12:22:39 | 显示全部楼层
金层太薄,存放时间长了引脚可焊性不良,比较常见.
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发表于 2010-9-29 12:25:02 | 显示全部楼层
本帖最后由闲情于2010-9-2915:30编辑

管脚一般是先镀镍再镀金,金层和镍层还有个扩散的问题~~~~~~~~~~
镍的可焊性是非常差的. 
镍金合金不太了解,估计可焊性也不会太好的.
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发表于 2010-9-29 15:26:07 | 显示全部楼层
BGA的焊脚本来就是焊锡球,其本身应该没有可焊性问题.
焊接的好坏,和锡膏,焊接工艺条件关系较大.
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发表于 2010-9-30 11:08:10 | 显示全部楼层
我们的一款产品出现冷焊问题,也一直在头痛。
请高手指点从哪些方面查找原因与对策。
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