书"温度对微电子和系统可靠性的影响"中的一些结论!

mandy · 发表于 2013-9-25 13:47:27

给力，找了好久了

peng957 · 发表于 2013-9-26 13:38:05

了解过

可靠性菜鸟 · 发表于 2013-9-27 17:22:13

解压不了啊，什么问题呢？

yeh · 发表于 2013-9-28 08:16:33

呵呵
阿氏公式拿来应付客户&老板还是很有用的。

denminfu · 发表于 2013-9-28 11:16:17

新手先学习。

psunnyapple · 发表于 2013-10-12 13:24:07

ciomp_achilles发表于2012-11-2910:49
08年就翻译出版了，但是被喷的模型现在还在广泛使用。否定一个东西是没有用的，你得拿出一个好使的来给人用...

有道理！每种模型和公式的使用都是有其适用条件的，特别是由实验转换来的公式。否定一个东西很简单但却没用，关键是能提供一个更加准确适用的模型出来，才能被大家认可接受。

psunnyapple · 发表于 2013-10-12 13:47:25

关于‘-55°-125°范围内这些机理只有很少被激发出来,大于150°大部分就开始被激发出来了’

如何定义筛选试验的温度范围呢？如果使用＞150℃筛选，将会有大批产品失效，而且电子产品工作温度上限一般定义为125℃；如果＜125℃，失效机理只有少数被激发。
是否可以这样理解：如果想深入了解电子器件失效机理，要选用＞150℃应力，暴露失效；如果想筛除电子器件的infantfailure就选用＜125℃？
盼解答。

wah324 · 发表于 2013-10-14 15:13:27

谢谢分享

reliabl0e · 发表于 2014-5-12 16:15:33

理论理解

weldwl · 发表于 2014-11-20 12:39:33

谢谢

		自动登录	找回密码
密码			-注册-