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楼主: panqunyang

书"温度对微电子和系统可靠性的影响"中的一些结论!

 火... [复制链接]
发表于 2014-11-20 18:19:52 | 显示全部楼层
这本书看起来不错，起码引用文献这么多，把近几十年的研究成果一网打尽。
可靠性的传统概念一一被推翻，但新的理念还不能很容易的工程化，让我们有些无所适从啊。
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发表于 2014-11-25 15:54:14 | 显示全部楼层
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发表于 2021-2-24 18:43:39 | 显示全部楼层
非常感谢分享电子书
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