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Semiconductor Reliability

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发表于 2012-11-14 22:22:26 | 显示全部楼层 |阅读模式
供应商上课的讲义,和大家分享!

SemiconductorReliability

IntroductiontoReliabilityMethodology

InfantmortalityreductionforMOSFET

RandomFailureRatePredictionMethod

TemperatureAcceleration

Arrheniusmodel:
Example:
1000hourhightemperaturelifetestat150°Cisequivalenttohowmanyhoursofoperatinglifeat55°C.Assumingtheactivationenergyis0.7ev
AF=EXP{(0.7/8.617x10-5)x[1/(273+55)-1/(273+150)]}=260
Sothetotalequivalentoperatingtimeis260,000hror27.6year
ForEa=1.0evAF=2825

ActivationEnergyvs.FailureMechanism

Note:Forhightemperatureoperatinglifetestwithunknownormultiplefailuremechanismusuallyaverageactivationenergy
of0.7evisusedforsemiconductorindustry.ThisisalsoallowedbyJEDECstandard

WearOutRegion(WaferProcessReliability)

PeckModel:Temperature&HumidityAcceleration

ExampleforManson-Coffin’sModel

AccelerationFactorAF={(TH-TL)/(Th-Ta)}M
ExampleforManson-Coffin’sModel
Example:30temperaturecycleforadevicefrom-65ºCto150ºCisequivalenttohowmanyyearsofoperationinacomputerenvironmenthavingjunctiontemperatureof55ºC.Assumingthecomputerturnonandoff3timesaday.(Troom=25ºC)
AF={(150+65)/(55-25)}6(formostofthepackagefailureM~6)=135489
EquivalentYear=30X135489/3/365=3712Yr
ForTj=85ºCAF=2117
EquivalentYear=30X2117/3/365=58Yr

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评分

参与人数 1金币 +10 收起 理由
admin + 10 不错的资料,几个加速模型的例子,大家可以.

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发表于 2012-11-15 08:03:53 | 显示全部楼层
Failurerateunit:
1FIT=onefailureperonebilliondevicehours
=1PPMper1000devicehour
=10-91/hr
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发表于 2012-11-15 08:32:59 | 显示全部楼层
我也看看,谢谢楼主的资料!
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发表于 2012-11-15 09:14:57 | 显示全部楼层
不错的资料,几个加速模型的例子,大家可以参考一下。
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发表于 2012-11-15 14:55:16 | 显示全部楼层
shared!TKS
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发表于 2012-11-15 19:57:05 | 显示全部楼层
good
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 楼主| 发表于 2012-11-15 20:13:04 | 显示全部楼层
IC公司都有这种讲义,但有些出于保密,不能和大家分享!!!
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