用户使用中出现的问题如何提前发现

wangxujun · 发表于 2013-8-29 17:48:32

疑惑：

产品的电子控制器在未出厂前经历了一系列的电性能、环境、EMC、安全的试验，甚至还有产品整机的可靠性试验。

可是到用户使用一段时间后，还是出问题了。

我们一直在考虑怎样能将用户使用过程中出现的问题提前在厂内发现？HALT是种有效的手段吗？

请各位大侠讨论、指导。谢谢。

hehui418 · 发表于 2013-8-30 07:59:58

可以采用高加速筛选（HASS）来将早期失效的产品筛选出来，这样可以在很大程度上避免到用户手上很快就出现问题。高加速寿试验（HALT）主要是用来暴露设计中存在的问题，为设计改进产品设计提供依据，并最终提高产品可靠性。

gykhl · 发表于 2013-8-30 12:44:24

hehui418发表于2013-8-3007:59
可以采用高加速筛选（HASS）来将早期失效的产品筛选出来，这样可以在很大程度上避免到用户手上很快就出现问...

没有HALT的数据，HASS也没办法开展啊还是要在研发段先做HALT，取得数据之后，量产段才能做HASS，

wangxujun · 发表于 2013-8-30 13:30:34

hehui418发表于2013-8-3007:59
可以采用高加速筛选（HASS）来将早期失效的产品筛选出来，这样可以在很大程度上避免到用户手上很快就出现问...

有一点是：产品在HALT中发现的问题①与市场问题对应度不高？②通过高应力加速，也不能完全消除市场故障。

3652351 · 发表于 2013-8-30 15:51:26

你的测试方法有没有依据市场来验证,比如说客房的环境和操作手法有没有考察?会不会比你的测试环境还要严酷.
第二点,市场出现问题是由于来料或工艺造成也不一定,需要你分析.

wangxujun · 发表于 2013-9-2 09:38:55

1、所有的实验室试验都是解决一定问题的，没有包打天下的方法；
2、模拟试验本身条件模拟是否科学也决定了试验效果的好坏；
3、不做试验结果会更差，产品的质量只能逐步提高，不可能100%不出问题。

hehui418 · 发表于 2013-9-2 10:35:07

wangxujun发表于2013-8-3013:30
有一点是：产品在HALT中发现的问题①与市场问题对应度不高？②通过高应力加速，也不能完全消除市场故障。

请参照6楼的回复

hehui418 · 发表于 2013-9-2 10:37:48

gykhl发表于2013-8-3012:44
没有HALT的数据，HASS也没办法开展啊还是要在研发段先做HALT，取得数据之后，量产段才能做HASS，

这个就要你们研究决定HASS试验的最终量级，没有现成的东西。

liangyuan1987 · 发表于 2013-9-2 21:33:12

是否可以考虑DPA(破坏性物理分析)
DPA是一种为验证电子元器件的设计、结构、材料、制造的质量和工艺情况是否满足预订用途或有关规范的要求，以及是否满足元器件规定的可靠性和保障性的试验，我觉得可以在产品出厂前抽样进行DPA.
欢迎讨论！

hzwanglei · 发表于 2013-9-4 12:51:01

学习~\(≧▽≦)/~啦啦啦

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