找回密码
 -注 册-
搜索
热搜: MTBF GJB MIL FMEA
查看: 2908|回复: 1

晶体类产品做完AEC-Q100实验后的判断标准

[复制链接]
发表于 2013-11-27 17:18:39 | 显示全部楼层 |阅读模式
各位大侠
目前我公司进行了AEC-Q100实验,分别经过了PC/TC/HTSL/Un-Hast等实验,实验完成后产品稳定度指标从原来的0.2ppm漂移到了2~3ppm现在没办法证明经过PC/TC/HTSL/Un-Hast这些实验后等效的常温工作时间,晶体类产品本身带有老化漂移这个指标,20年控制在4.6ppm范围内,这种情况应该如何准确的给这次实验下结论呢。还是说AEC这个实验条件只是对存储环境等极限进行验证,不过就是不过,不应该考虑指标的漂移?
发表于 2013-11-28 11:24:00 | 显示全部楼层
本帖最后由sunjj于2013-11-2811:28编辑

个人认为:
PC/TC/HTSL/Un-Hast只进行电参数测试,在指标内则OK。
参数漂移只是HTOL试验后的一项判据。

另,Q100是针对IC的,晶体(晶振)个人感觉应该遵循AEC-Q200《STRESSTESTQUALIFICATIONFORPASSIVECOMPONENTS》
回复 1 0

使用道具 举报

您需要登录后才可以回帖 登录 | -注 册-

本版积分规则

QQ|Archiver|手机版|小黑屋|可靠性网 ( 粤ICP备14066057号 )

GMT+8, 2025-4-4 06:31

Powered by Discuz! X3.5

© 2001-2023 Discuz! Team.

快速回复 返回顶部 返回列表