AEC_Q100_Rev_G_Base_Document.pdf

jim_zhong · 发表于 2010-4-28 11:10:12

英文版的，供大家参考。

admin · 发表于 2010-4-28 11:48:00

谢谢钟兄的分享，如下是内容摘要:

FAILUREMECHANISMBASEDSTRESSTESTQUALIFICATIONFORINTEGRATEDCIRCUITS

AutomotiveElectronicsCouncil

TABLEOFCONTENTS
AEC-Q100FailureMechanismBasedStressTestQualificationforIntegratedCircuits
Appendix1:DefinitionofaQualificationFamily
Appendix2:Q100CertificationofDesign,ConstructionandQualification
Appendix3:PlasticPackageOpeningforWireBondTesting
Appendix4:MinimumRequirementsforQualificationPlansandResults
Appendix5:PartDesignCriteriatoDetermineNeedforEMCTesting
Appendix6:PartDesignCriteriatoDetermineNeedforSERTesting
Attachments
AEC-Q100-001:WIREBONDSHEARTEST
AEC-Q100-002:HUMANBODYMODEL(HBM)ELECTROSTATICDISCHARGE(ESD)TEST
AEC-Q100-003:MACHINEMODEL(MM)ELECTROSTATICDISCHARGE(ESD)TEST
AEC-Q100-004:ICLATCH-UPTEST
AEC-Q100-005:NONVOLATILEMEMORYWRITE/ERASEENDURANCE,DATARETENTION,
ANDOPERATIONALLIFETEST
AEC-Q100-006:ELECTRO-THERMALLYINDUCEDPARASITICGATELEAKAGE(GL)TEST
AEC-Q100-007:FAULTSIMULATIONANDTESTGRADING
AEC-Q100-008:EARLYLIFEFAILURERATE(ELFR)
AEC-Q100-009:ELECTRICALDISTRIBUTIONASSESSMENT
AEC-Q100-010:SOLDERBALLSHEARTEST
AEC-Q100-011:CHARGEDDEVICEMODEL(CDM)ELECTROSTATICDISCHARGE(ESD)
TEST
AEC-Q100-012:SHORTCIRCUITRELIABILITYCHARACTERIZATIONOFSMARTPOWER
DEVICESFOR12VSYSTEMS

sunjj · 发表于 2010-4-28 11:53:32

中文版
AEC_Q100_Rev_G2007

jim_zhong · 发表于 2010-4-29 09:38:10

向老大和sunjj学习！！
满足大众要求！！

zxd121 · 发表于 2010-8-5 10:50:40

向老大致敬！谢谢！

阿牛 · 发表于 2011-1-24 17:04:23

有没有知道AEC的官方网站？

salemz · 发表于 2011-1-25 08:31:48

學習中

sunjj · 发表于 2011-1-25 09:59:11

本帖最后由sunjj于2011-1-2510:00编辑

有没有知道AEC的官方网站？
阿牛发表于2011-1-2417:04

www.aecouncil.com

需要代理服务器才能登陆。

yeh · 发表于 2012-2-16 16:10:03

谢谢钟兄&sunjj的分享

huch3878 · 发表于 2012-8-19 19:21:06

Thankforyourinformation

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