请教MTBF的几组概念

scpxj

最近正在学习MTBF试验，经常看见如下几组概念，始终搞不明白他们的关系及相关计算，特请教各位行业前辈。
1.可靠度(reliability)与置信度区间(confidencelevel)
两个概念有何关系？可相互转换吗？如可以，如何转换？公式是什么？
设计一个产品的MTBF实验时，如何确定这两个参数？
2.失效率(FR),年失效率(AFR)和MTBF
三者的关系是什么？如何相互转换计算？他们与MTBF试验的设计有什么直接关系？
3.MTBF与MTBF试验的测试时间
MTBF在数值上和MTBF试验的测试时间应该相等吗？如果不等，如何根据相关参数确定MTBF试验的测试时间？

homzi

等待高手解答

wu8295

我来回答第一个，剩下的其他人跟进
可靠度你可以看作是使用者使用期间产品所表现的整体水平。
而置信度一般都是和MTBF联系在一起，表示MTBF的在你说的这个区间（如>3000h)的概率。
公式好像有一个：（2Pweibull)
1-CL=∑n!/(i!*(n-i)!*(1-R)**i*R**(n-i)
一般说的都是R和MTBF的关系，很少说到R和CL的关系，所以没必要太在意
置信度的要求对于设备级基本上都要求90%,MTBF大小一般是客户的要求，可靠度你可以按指数分布或weibull分布去算就好了，我记得
这里有一个示例，你可以先看看
http://www.kekaoxing.com/club/thread-980-1-1.html

[本帖最后由wu8295于2008-2-2617:48编辑]

angel8679

摘自fjd6581的一段解释可以帮你搞清第二个问题：
失效率最为简单的计算公式为λ＝1/MTBF，但这个公式是指产品的失效为指数分布的情况下才适应，因此你必须了解你产品的失效分布情况，这对不少同行可能不太容易判断，因此我们可以采用时间和失效数量的关系求失效率λ，其公式如下：
λ(t)＝∆n(t)/∆t[N-n(t)]
已工作到t时刻的产品，在时刻t后单位时间内发生失效的概率，称为该产品在时刻t的失效率函数，又称为失效率。举个例子看看是否能帮你解决疑难。注意其中的时间段，

有100块IC，在1000小时内失效5块，在1000～1010小时失效38块，求t＝1000，和t＝1010h的失效率的估计值？
代入公式：λ(t)＝∆n(t)/∆t[N-n(t)]
求解：
λ(1000)＝5/1000(100-0)=5×10－5/h
＝50000Fit
λ(1010)＝38/(1010-1000)(100-5)
＝0.4%h－1
所以：
1。失效率越小，那么MTBF就越大；
2，试验样本容量越大，测试的时间越长，发生故障的产品越少，那么失效率越小，MTBF越大。
从失效率的定义可以知道失效率与年失效率的关系了

echoxfs

MTBF的测试时间根据所选的试验方案不同而不同，具体的你可以看一下GJB899。

fancy

第三个问题比较好回答。MTBF与MTBF试验的测试时间是不等的，它们之间有一个完整的公式进行换算。就是MTBF的公式。下面这个公式不一定通用。

[本帖最后由fancy于2008-2-2714:56编辑]

fancy

T=测试时间
C=ConfidenceLevel可信度
2r+2=DegreesofFreedom自由度
r=#ofFailures失效的个数
第一个公式分母是需要查表所得。

scpxj

非常感谢各位朋友的慷慨赐教!相关实例非常好。还有几个小问题，请赐教：
对三楼的朋友wu8295，这个公式1-CL=∑n!/(i!*(n-i)!*(1-R)**i*R**(n-i)我还是有些不太理解，始终的i代表什么？能举个计算实例吗？
六楼朋友fancy,从哪里能获得卡方查询表？能给个连接或直接share给我吗？万分感激。

zhanyuanli

楼主可比我'厉害'多了,
式中的i只是任意给定的变量，是个整数，从1直到n,也可以用任意变量k、r等。
至于卡方分布，我级别不够，不能发附件，只能新建帖子了。

scpxj

谢谢指点.