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热搜: MTBF GJB MIL FMEA
楼主: kingdodoo

讨论:器件选型中,如何评估其使用寿命?

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发表于 2009-6-4 17:14:43 | 显示全部楼层
产品设计也有“短板效应”,如果你的铝电解只有5~10年的寿命,25年寿命的芯片有意义吗?
如果是MTBF=25年,则芯片的年返修率为2.5%就可以了。简单吧。
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发表于 2009-6-4 17:29:01 | 显示全部楼层
器件(产品)寿命严格来讲应该通过寿命试验或者加速寿命试验数据得到,一般是加速寿命试验利用阿伦纽斯模型外推得来,这样结果相对来说比较可信。


回复:
这样得出的结果是真正的终了寿命(MTTF),是浴盆曲线损耗阶段的结果,对于大部分产品研制没任何意义,如果有耐心和运气的话,一生恐怕真会遇到一个正常使用的芯片达到损耗失效,所以作为小功率半导体芯片如果不超出使用条件我们称为永久或半永久性器件。
事实上我们需要了解的是浴盆底部的寿命,他是一个统计值,有随机和指数分布的特点。
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发表于 2009-6-4 17:36:49 | 显示全部楼层
产品设计也有“短板效应”,如果你的铝电解只有5~10年的寿命,25年寿命的芯片有意义吗?
如果是MTTF=25年,则芯片的年返修率为2.5%就可以了。简单吧。

前面有错
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发表于 2009-6-5 09:08:43 | 显示全部楼层

回复 10楼 zhanghjspace 的帖子

回复10楼zhanghjspace的帖子
认同你的观点,但学术的东西尽量留在一些特殊课题上去讨论,当然它也许是可以辨证清楚问题的最好办法,但很多企业要实实在在的东西,尽量简化通俗易懂符合才是最主要的.
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发表于 2009-6-5 09:10:58 | 显示全部楼层

回复 12楼 fjd6581 的帖子

难得冯老师这两天比较抽空上来讨论这样的问题!这是比较罕见的.
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发表于 2009-6-5 09:32:40 | 显示全部楼层
这两天有空,尽量支持一下国内最好的可靠性网站。
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发表于 2009-6-5 09:57:26 | 显示全部楼层

回复 14楼 reliab 的帖子

嗯,是啊。
不好意思,占用点资源,再多说一句,啊,呵呵!

楼主在1楼里提到的问题:MTBF与寿命的联系和区别。
1、如我在6楼和10楼说的那样,“MTBF”不是“寿命”,它只是“寿命”的一个“指标”。(“寿命”的指标通常有:平均寿命、可靠寿命、特征寿命、中位寿命等。MTBF就是用来表示可修复产品的“平均寿命”这个指标的。)---------呵呵,不要烦啊,看不懂没关系,就当读绕口令了!
2、如果我是客户,厂商给我提供了一批产品,我不会去关心单个产品的寿命是多少,我会关心整批产品的寿命是多少。单个产品寿命的长短意义不大,整批产品寿命的长短才有意义。
3、对于客户给我的可修复产品,我更倾向于关注它们的“MTBF”的大小,因为,即使这批产品能用50年(这个时间不短了吧,呵呵),但是如果它经常坏,三天打渔,两天晒网的话(也就是说MTBF低了),那我也受不了啊,是不是。所以,不管你产品的寿命是50年还是100年,只要你的MTbF值不是5天10天就行,你说呢?

朋友们,走过路过,记得要发表一下自己的看法哟,这样论坛的气氛才更热烈嘛,呵呵!
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发表于 2009-6-5 10:19:05 | 显示全部楼层

回复 17楼 zhanghjspace 的帖子

很好,这不是占用资源,帖子的热门表示问题需要理清,不管是通俗易懂还是站在学术上讨论问题,目标是能解决问题,让大家心舒.这样才不辜负老大给我们建立平台的目的.也许很多人在门缝看热闹,希望大家能见缝插针呀.有问题或疑问尽量发表自己的看法,论坛的高手多的是!问题总会解决的,况且大家都这么热情
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发表于 2009-6-5 11:20:54 | 显示全部楼层
产品设计中,需要选择单片双极与MOS微处理器与可编程阵列逻辑电路,对其使用寿命要求不小于25年,厂商提供的产品资料里没有可靠性及寿命指标,如何评估器件寿命?


回复:
今天有时间我们看看如何计算,首先要明确使用寿命的提法,在可靠性行业使用寿命一般是指通过统计得出的平均寿命概念,在失效分布为指数分布时可以应用MTBF或MTTF这两个技术指标。为了更好的理解我们先考虑平均寿命为对数分布,即25年时有一半的产品失效还有一半的产品继续工作,如一个产品工作2年失效对应的有一个产品可以工作48年,那么平均寿命就是25年,显然对一批产品而言25年时有50%的产品失效了。平均到年失效为50%/25年=2%年,因此只要年失效率在2%其平均寿命就是25年。如果使用MTBF或MTTF计算将50%换成63。2%就可以了是不是很简单的事。
下面看看如何评估,一般可以通过试验做MTBF或MTTF的评估,但需要大量的时间和经费,粗略估算25年的产品需要的银子约100万~150万。这种方法基本不可行。那么有什么方法可以采用呢?1、了解使用该生产厂家类似芯片以往的失效数据进行推算(新器件)。2、根据自己使用该芯片的情况统计计算得出。3、根据GJB299或MIL217的数据手册查找,4、加速试验得出外推寿命再计算。
以上的回复可以吗?
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发表于 2009-6-5 11:33:03 | 显示全部楼层
对于产品最好的评价是年返修率和5年总返修率。可惜目前对这个控制没多少人关心,都去研究更偏重可靠性数学问题的MTBF了,尤其是MTBF的概念、理解等。浪费时间呀,多关注一下入库检验(不是参数测试这么简单)和生产工艺等问题也许更有意义。
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